热像仪 TSI 与传统无损检测设备对比分析
发布日期:2024-12-16 浏览次数:41
热像仪 TSI 与传统无损检测设备对比分析
提高能源效率是节能减排的重要主题。该装置着眼于电子设备的功耗问题,通过可视化设备内部的热特性并将其转换为相对数值,可以评估界面的热扩散率。此外,金刚石和 DLC 因其高导热性而备受关注,可节省能源,但评估其热扩散率极其重要,因为热扩散率可使热量从其界面逸出。此外,据说这些材料之间界面的粘附力会影响性能。该装置旨在利用热量来评估界面的粘附力。

特征
激光加热功能
微距摄影光学系统(分辨率约20μm)
高性能红外相机(7.5μm - 13.5μm)
降噪技术
主要规格
| TSI-2 |
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基本性能 | 测量目标 | 样品缺陷、异质性、红外辐射率、简单温度、热性能 |
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输出数据 | 频率、距离、幅度、相位、亮度、图像数据 |
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分析模式 | 点/面分析、相位分析 |
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其他配件 | 温度调节加热器、控制/分析软件、PC |
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测量环境 | 温度 | 室温~250[℃] |
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测量频率 | 0.1~10[赫兹] |
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红外摄像机 | 元件数量 | 336×256 |
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元件类型 | Vox 微测辐射热计 |
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像素大小 | 17[微米] |
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观测波段 | 7.5~13.5[μm] |
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帧率 | 30[赫兹] |
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解决 | 约30[μm] |
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半导体激光器(连续波) | 波长 | 808[纳米] |
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最大输出 | 5[宽] |
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正弦调制 | 0.1~30[赫兹] |
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舞台活动范围 | 水平(XY轴)方向 | ±15[毫米] |
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垂直(Z轴)方向 | +50[毫米] |
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电源 | AC100-240[V]、10-5[A]、50/60[Hz] |
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装置本体 | 外形尺寸 | 宽552 × 深602 × 高657 [毫米] |
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重量 | 76.5[公斤] |
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激光安全标准 | 1 类,IEC/EN 60825-1:2007 |
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与传统无损检测设备对比
| TSI-2 | X射线探伤 | 超声波显微镜 |
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你如何获得对比度? | ○热导率的差异(可以进行未有的观察) | ○X射线透过量 | ○超声波反射或速度的差异 |
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来样加工 | ◎不需要 | ◎不需要 | △需要浸没 |
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解决 | △约20μm | ◎1μm | ○1μm(但与观察深度存在权衡关系) |
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穿透力 | △ 适合近地表观察。 | ◎贵。 CT方法可用。 (金属很难穿透) | △随频率而变化。分辨率也会改变。 |
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观察范围 | ◎更换方便。覆盖范围广 | △出于安全考虑,观察范围受到限制。 | △安装在水族箱内。需要扫描。观察范围有限。 |
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观察时间 | ◎实时 | ◎实时 | △需扫描 |
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