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日本kod DWL-1500XY – 2 轴精密数字平面水平仪 购买该设备的客户只能免费安装一个移动应用程序（包括序列号） 多台设备同步 配备MEMS传感器
更新日期：2024-03-20 访问量：1094
日本kod DWL-1300XY – 2 轴精密数字平面水平仪 2轴同时测量 实现低成本和提高工作效率 通过移动应用程序和蓝牙连接同时显示 2 个轴
更新日期：2024-03-20 访问量：1104
日本SEM超小型新型 2 軸精密数字水平仪SELN-001B 您可以进行调整，就像在查看监视器屏幕时看着气泡水平一样。 非常适合精密设备，半导体制造设备等的水平调节！ !!
更新日期：2024-03-20 访问量：1155
日本shinyei吸收光谱露点水分仪TDLAS T-1系列 以分钟和小时为单位的响应能力已大大降低，从而可以以秒为单位进行测量。 （示例）露点环境示例 响应时间：-50°C DP ⇔ 0°C DP 6 秒内（63% 响应）
更新日期：2024-03-20 访问量：1478
日本shinyei高露点测量系统HDMS-02 高露点测量系统 HDMS-02 是一种测量系统产品，它集成了 DewStar S-3 系列镜面冷却露点仪，可在较宽的高温范围内准确测量露点温度。 高露点测量所需的所有功能，例如稳定流量的采样系统和防止管道结露的措施，都集成在一个包装中，可以轻松高精度地进行高露点测量。
更新日期：2024-03-20 访问量：1323
日本shinyei高露点型镜面冷却露点仪DewStar S-3 系列 高露点型镜面冷却露点测量（镜面冷却露点仪、镜面露点仪、光学露点仪） DewStar S-3 利用高达 95°C 的高精度露点测量能力来利用露点测量系统作为燃料电池评价系统的标准，在各种烧成炉的露点管理等各种电子部件的管理和耐久性试验的标准中非常有用。
更新日期：2024-03-20 访问量：1569
日本shinyei低露点型镜面冷却露点仪DewStar S-2系列 镜面冷却露点仪（镜面冷却露点仪、镜面露点仪、光学露点仪） DewStar S-2 在干燥室内测量低露点气体，并在工厂检查干燥空气管的性能。
更新日期：2024-03-20 访问量：1390
日本shinyei标准镜面冷却露点仪DewStar S-1 系列 镜面冷却露点仪（mirror-cooled dew point meter，镜面式露点仪，光学露点仪）即主要检测方法。
更新日期：2024-03-20 访问量：1504
日本shinyei分体式镜面冷却露点仪DewStar R-1 系列 DewStar 系列是被“JIS-Z-8806/湿度测量法”认定为标准湿度计的高精度、高可靠性的镜面冷却露点计。
更新日期：2024-03-20 访问量：1986
日本yutaka微球外径检测装置YSW-2R 我们在一家精密零件检测设备制造商，如滚轮外径分选机、激光分选机、CCD光学分选机等经过10年的研发，介绍了超精密滚轮式球外径分选机的成功技术开发和商业化。直径分选机YSW-2R，可实现连续无人自动操作和99%检查，非常适合球、锡球等球体外径分选。
更新日期：2024-03-20 访问量：1362
日本YAMABUN山文电气在线激光测厚装置NME-RM, NSM-RM PP/PS/多层/薄膜/片材的理想选择 以非接触方式测量厚度而非基重 座椅制造过程中的全宽测量 无需许可证、许可证或创建校准曲线即可轻松操作
更新日期：2024-03-20 访问量：1193
日本YAMABUN山文电气适用于钢板和铝板等的台式测厚仪TOF-M 测量切割成条状的钢板和铝板等金属板的厚度波动 通过自动传输机制实现稳定的测量重复性 测量数据可自动保存在个人电脑上
更新日期：2024-03-20 访问量：1375
日本YAMABUN山文电气台式离线分光干涉式测厚仪TOF-S 实现高测量重复性（± 0.01 μm 或更小，取决于对象和测量条件） 不易受温度变化的影响 可以生产用于研究和检查的离线式和在制造过程中使用的在线式。 反射型允许从薄膜的一侧进行测量 仅可测量透明涂膜层（取决于测量条件）
更新日期：2024-03-20 访问量：1193
日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2 高测量分辨率 由于它是非接触式，因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。 即使表面状况粗糙，也可以进行测量。 基重测量 操作简单（具有自动介电常数设置功能）
更新日期：2024-03-20 访问量：1296
日本YAMABUN山文电气台式离线接触式测厚仪TOF-6R001 模型TOF-6R001 测量方法接触式/线性规 测量对象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等） 测量原理线规
更新日期：2024-03-20 访问量：1190
